کاربرد میکروسکوپ نیروی اتمی در نانولیتوگرافی

امروزه فناوری‌نانو، جایگاه ویژه‌ای را در علوم مختلف به خود اختصاص داده‌است. با توسعه این حوزه از دانش، ساخت نانومواد و نانو ساختارها با صحت و دقت بالایی امکان‌پذیر شده‌است. دستگاه میکروسکوپ پروبی روبشی۱(SPM)، به‌ویژه میکروسکوپ نیروی اتمی۲(AFM) از جایگاه و اهمیت ویژه‌ای در فناوری‌نانو برخوردار است؛ این دستگاه تغییر نیرو بین سوزن و سطح نمونه را نشان می‌دهد و به کمک آن می‌توان از سطوح ترکیبات گوناگون، تصاویری با قدرت تفکیکی کمتر از ده نانومتر تهیه نمود، همچنین امکان ثبت تصاویر در محیط مایع، هوا و خلأ نیز وجود دارد. میکروسکوپ نیروی اتمی علاوه ‌بر بررسی توپوگرافی سطح، به سهولت می‌تواند به‌عنوان ابزاری برای ایجاد تغییر بر روی سطح در مقیاس نانو به کار برده شود.

نویسندگان :
صدیقه صادق حسنی ,زهرا ثبات

منبع : ستاد ویژه توسعه فناوری نانو